[发明专利]象差层析探测与数值矫正的无扫描三维AO-OCT成像系统与方法有效
| 申请号： | 202111177393.X | 申请日： | 2021-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN113876301B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 杨亚良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 江亚平 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种象差层析探测与数值矫正的无扫描三维AO‑OCT成像系统与方法，包括扫频光源、常规样品成像模块、眼底成像模块、小孔、波前探测相机、成像相机、数据采集卡和计算机等。本发明采用全场扫频OCT技术进行成像，无需任何机械扫描即可实现三维成像；通过在波前探测端设置小孔，来形成象差探测所需的点聚焦照明条件；只需单次信号采集就能获得所有层的层析象差—相位信息，利用它们对各成像层的象差进行数值矫正，就能获得所有层的高分辨率成像结果，具体包括结构图像和血管造影图像。只针对被成像层进行象差探测与矫正，故能获得该层的精确象差信息与最佳成像结果。本发明具有系统结构简单、稳定性高、尺寸小和成本低廉等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 象差 层析 探测 数值 矫正 扫描 三维 ao oct 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
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