[发明专利]小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 202111179708.4 申请日: 2021-10-11
公开(公告)号: CN113916507A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 孙峥 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 张莉瑜
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法,该装置包括:平行光管、固定模块、经纬仪、红外成像模块和数据处理模块;平行光管用于提供红外平行光,且配有靶标;固定模块用于设置待测试的光学系统;经纬仪用于校准平行光管与光学系统同轴;红外成像模块用于在光学系统的光学焦面位置处采集靶标的红外图像;数据处理模块用于根据红外成像模块采集的红外图像、靶标的尺寸以及平行光管的焦距,计算光学系统的焦距。本发明在使用尽可能少且基础的仪器设备条件下,较高精度地完成光学指标的测试。
搜索关键词: 空间 集成度 红外 孔径 光学系统 测试 装置 方法
【主权项】:
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