[发明专利]一种基于X射线能谱微区面扫描的图像处理方法在审
| 申请号： | 202111182927.8 | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN114199919A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 滕超逸;郑真;刘昌奎 | 申请（专利权）人： | 中国航发北京航空材料研究院 |
| 主分类号： | G01N23/2273 | 分类号： | G01N23/2273 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 穆环宇 |
| 地址： | 100095 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于X射线能谱微区面扫描的图像处理方法，属于扫描电子显微镜‑X射线能谱仪元素分布表征领域。本发明通过对X射线能谱面扫描的元素分布数据进行强度归一化计算，获得各个元素分布强度比率频数分布直方图，并设置成像阈值，解决了现有在使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪进行微区面扫描分析是时信噪比低，图像不清晰，有效信息不突出，分析效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 射线 能谱微区面 扫描 图像 处理 方法 | ||
【主权项】：
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