[发明专利]待测物检出缺陷的聚类方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111185624.1 | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN113902711A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 陈鲁;夏爱华;张嵩 | 申请（专利权）人： | 深圳中科飞测科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/25;G06V10/762;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 鲁梅 |
| 地址： | 518110 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种待测物检出缺陷的聚类方法、装置、设备及存储介质，该聚类方法根据待测物中各缺陷外接矩形的位置信息，将待测物中的各缺陷划分为至少一个聚类簇，其中，在一个聚类簇中，对于任一缺陷，至少有另一缺陷的外接矩形的位置信息与所述任一缺陷的外接矩形的位置信息满足预设条件，且一个聚类簇中任一缺陷的外接矩形的位置信息和另一个聚类簇中任一缺陷的外接矩形的位置信息均不满足预设条件，进而将待测物中归于同一聚类簇的各缺陷聚类成一个聚类缺陷。可见，该方法无需对待测物检出缺陷的二元图进行形态学膨胀操作，而是只根据待测物中各缺陷外接矩形的位置信息来进行聚类，因此，该方法耗时更短，更快速。 | ||
| 搜索关键词： | 待测物 检出 缺陷 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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