[发明专利]一种光电探测器参数测试用多通道对光装置在审
| 申请号： | 202111186781.4 | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN113865829A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 刘果;陈诗谋;张晓明;郭利 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 | 代理人： | 柯玉 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电探测器参数测试用多通道对光装置，包括相对设置的对光机构和定位机构以及设置在所述定位机构上的信号传输机构，所述对光机构可调节设置在所述定位机构的上方，所述对光机构包括一对光承接架以及多个阵列分布在所述对光承接架上的对光单元，待测试的光电探测器定位在所述定位机构上且对应于所述对光单元下方的位置处，以实现对所述光电探测器进行参数测试；整个过程无需将装置移至实验箱外即可实现多通道的同时对光，测试结果高效且可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 探测器 参数 测试 通道 对光 装置 | ||
【主权项】：
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