[发明专利]显示屏缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202111187417.X | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN113865830A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 赵同印 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 沈晓敏 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种显示屏缺陷检测方法及系统，显示屏缺陷检测方法包括：获取第一图像信息；第一图像信息由相机在第一光源提供的第一暗场照明下生成，第一图像信息包含显示屏的暗场全局状态信息，第一光源的光轴与显示屏具有第一夹角；获取第二图像信息，第二图像信息由相机在第二光源提供的第二暗场照明下生成，第二图像信息包含显示屏的附着异物信息，第二光源的光轴与显示屏具有第二夹角，第二夹角小于第一夹角；在第一图像信息中滤除第二图像信息的所有特征，并生成输出图像信息；输出图像信息包含显示屏的暗场全局缺陷信息，暗场全局缺陷信息不包括附着异物信息。本发明提供的所述方法能够过滤附着异物信息，实现精确检测显示屏缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 显示屏 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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