[发明专利]非易失性存储器辐射效应测试方法、装置和计算机设备在审
| 申请号： | 202111190652.2 | 申请日： | 2021-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN114005486A | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;黄云;彭超;雷志锋;何玉娟;肖庆中;路国光;来萍 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓丹 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种非易失性存储器辐射效应测试方法、装置、计算机设备和存储介质，应用于内置非易失性存储器的存储芯片，该方法包括：对被测芯片进行工作模式配置和初始数据写入操作，以使被测芯片中的易失性存储器写入初始数据；控制被测芯片断电，等待预设时长，以使初始数据从非易失性存储器自动写入非易失性存储器；控制辐照装置以预设辐照参数，辐照非易失性存储器；控制被测芯片上电，等待设定时间，以使易失性存储器从非易失性存储器中读出反馈数据；获取反馈数据，并根据反馈数据和初始数据，得到辐射效应测试结果并输出。上述非易失性存储器辐射效应测试方法，无需直接访问非易失性存储器，有利于扩展存储器辐射效应测试方法的应用场景。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 辐射 效应 测试 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
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