[发明专利]3D非易失性存储装置及其读数据方法、写数据方法在审

专利信息
申请号: 202111199608.8 申请日: 2021-10-14
公开(公告)号: CN114067879A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 周小锋 申请(专利权)人: 西安紫光国芯半导体有限公司
主分类号: G11C11/409 分类号: G11C11/409;G11C11/4093;G11C11/4096;H01L25/18
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 黎坚怡
地址: 710000 陕西省西安市西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请公开了一种3D非易失性存储装置及其读数据方法、写数据方法。该3D非易失性存储装置包括:控制晶圆,设有NVM接口;缓存晶圆,设置在控制晶圆的一侧,且与NVM接口电连接;非易失性存储晶圆,设置在控制晶圆设有缓存晶圆的一侧,且与NVM接口电连接;控制晶圆接收写请求,判断缓存晶圆是否还有缓存空间,若否,控制晶圆将缓存晶圆中存储的部分数据转存至非易失性存储晶圆,并将写请求对应的数据写入缓存晶圆;其中,转存至非易失性存储晶圆中的部分数据为优先级低的数据。本申请能够实现3D结构的非易失性存储装置,且能够降低非易失性存储装置的读写时延,进而提高其数据读写效率,且提高非易失性存储装置的集成度,节约成本。
搜索关键词: 非易失性 存储 装置 及其 读数 方法 数据
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安紫光国芯半导体有限公司,未经西安紫光国芯半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111199608.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top