[发明专利]准直装置及DOI测量的方法在审

专利信息
申请号: 202111203534.0 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN115980822A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 汪飞;程冉;肖鹏;谢庆国 申请(专利权)人: 合肥锐世数字科技有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01T1/29
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 苗娟
地址: 230031 安徽省合肥市中国(安徽)自由贸易试验*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明的一种准直装置及DOI测量的方法,准直装置包括位移台和第一载物台,位移台用于提供在一个或多个方向上的位移;第一载物台用于承载电路板、放射源和准直晶体,第一载物台固定于位移台上,位移台每次运动时放射源和准直晶体之间的相对位置不变。DOI测量的方法包括:将放射源和准直晶体分别放置或固定于第一载物台的两端,使准直晶体与电路板上的光电转换器耦合;使准直晶体与放射源的中心对准;将第一载物台连接于位移台,通过移动位移台测量不同位置处待测晶体的DOI。本申请的技术方案能够保证放射源与准直晶体的同步移动,方便、准确的实现DOI测量。
搜索关键词: 装置 doi 测量 方法
【主权项】:
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