[发明专利]一种半自动化芯片测试机台及工作方法在审
| 申请号： | 202111207665.6 | 申请日： | 2021-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN113820590A | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 杨密凯;杨松坤;李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半自动化芯片测试机台及工作方法，包含测试机座、测试台与动作机构，所述的测试台设置在所述的测试机座上，是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放式箱体，用于置放测试芯片并执行测试动作；所述的动作机构包含气缸，设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片，本发明的工作方法为步骤S101测试机台通电；步骤S102装载待测芯片；步骤S103启动芯片测试；步骤S104芯片测试结束；步骤S105输出芯片测试结果，本发明整个测试过程由程序控制，减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半自动 芯片 测试 机台 工作 方法 | ||
【主权项】：
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