[发明专利]样气采样装置及气密封元器件内部气氛分析设备有效

专利信息
申请号: 202111226491.8 申请日: 2021-10-21
公开(公告)号: CN114034524B 公开(公告)日: 2023-09-01
发明(设计)人: 赵昊;彭泽亚;吴谋智;赵振博;周斌;赖灿雄;秦杰 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01N1/24 分类号: G01N1/24;G01N33/00
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 孙君衍
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种样气采样装置及气密封元器件内部气氛分析设备。样气采样装置包括上压块和下压块,上压块设有进气通道,下压块设有用于储存样气的样气腔,下压块与上压块连接,进气通道与样气腔连通,样气腔的体积大小可调;或上压块设有用于与下压块可拆卸连接的连接部,当上压块通过连接部与下压块连接时,进气通道与样气腔连通。气密封元器件内部气氛分析设备包括该样气采样装置。使用样气采样装置进行气体采样时,将下压块与上压块连接以使进气通道与样气腔连通,标准样气通过进气通道进入样气腔内部以使样气腔中储存一定体积的标准样气,气密封元器件内部气氛分析设备的取样装置伸入样气腔,即可获取一定体积的标准样气进行下一步的校准。
搜索关键词: 采样 装置 密封 元器件 内部 气氛 分析 设备
【主权项】:
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