[发明专利]预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及存储设备在审
| 申请号： | 202111227999.X | 申请日： | 2021-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN114664367A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 尹钟轮;宋弦钟;崔城赫;孙弘乐 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜;赵莎 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及执行该方法的存储设备。在预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法中，执行读取序列。所述读取序列包括多个读取操作，所述多个读取操作中的至少一个读取操作被顺序地执行，直到成功地得到所述非易失性存储器件中存储的读取数据。生成序列类别和纠错码(ECC)解码信息。基于所述序列类别和所述ECC解码信息中的至少一者确定所述非易失性存储器件的寿命阶段。当确定所述非易失性存储器件对应于第一寿命阶段时，执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的粗略预测。当确定所述非易失性存储器件对应于所述第一寿命阶段之后的第二寿命阶段，执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的精细预测。 | ||
| 搜索关键词： | 预测 非易失性存储器 剩余 寿命 方法 以及 存储 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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