[发明专利]一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法在审
| 申请号： | 202111232412.4 | 申请日： | 2021-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN113866584A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 孙玉;唐德平;金浪 | 申请（专利权）人： | 合肥科威尔电源系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 朱文振 |
| 地址： | 230088 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法，包括至少一条测试支路、栅极电源模块，每条测试支路结构相同；所述加热电流源的输出端接所述电流旁路模块，所述电流旁路模块的正极输出接所述二极管的正极，所述二极管的负极通过被测半导体器件后接所述电流旁路模块的负极；所述栅极电源模块接被测半导体器件的栅极；所述测试电流源的负极接所述被测半导体器件的一端，正极接所述二极管的正极，所述二极管的负极接所述被测半导体器件的另一端。本发明通过增设二极管，防止电流分流，可以在不增加开关器件的情况下，配合电流旁路模块，实现加热电流和测试电流的切换，从而避免因功率器件开通、关断带来的切换速率不够快的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 循环 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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