[发明专利]半导体封装装置及其制造方法在审
申请号: | 202111232770.5 | 申请日: | 2021-10-22 |
公开(公告)号: | CN114050143A | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 呂文隆 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/48 |
代理公司: | 北京植德律师事务所 11780 | 代理人: | 唐华东 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开涉及半导体封装装置及其制造方法。半导体封装装置包括:第一重布线层;第一结构,设置于所述第一重布线层下方,其中,所述第一结构具有开孔以暴露所述第一重布线层的部分;第一导电垫,设置于所述第一重布线层下表面;第二导电垫,设置于所述第一结构下表面;以及第一打线,电连接所述第一导电垫和所述第二导电垫。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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