[发明专利]一种双辐射场的热中子参考辐射装置在审

专利信息
申请号: 202111235042.X 申请日: 2021-10-22
公开(公告)号: CN114114379A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 张健;任忠国;张辉;王平全;杨竣凯 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 北京喆翙知识产权代理有限公司 11616 代理人: 李娜
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于中子物理与中子应用技术领域,提供了一种双辐射场的热中子参考辐射装置。该双辐射场的热中子参考辐射装置包括:第一保护层、第二保护层、中子源板、第一慢化层、第一均整透镜、第一辐射场、第一反射层、第二慢化层、第二均整透镜、第二辐射场以及第二反射层。一方面,中子源板释放的快中子依次经过第一慢化层、第一均整透镜以及第一反射层,最终得到热中子通量均匀且热中子注量率高的第一辐射场;另一方面,中子源板释放的快中子依次经过第二慢化层、第二均整透镜以及第二反射层,最终得到热中子通量均匀且热中子占比高的第二辐射场。
搜索关键词: 一种 辐射 热中子 参考 装置
【主权项】:
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