[发明专利]基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 202111237895.7 申请日: 2021-10-25
公开(公告)号: CN113689427B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 邱增帅;王罡;潘正颐;侯大为 申请(专利权)人: 常州微亿智造科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/62;G06V10/774;G06V10/764;G06V10/40
代理公司: 常州至善至诚专利代理事务所(普通合伙) 32409 代理人: 朱丽莎
地址: 213100 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于空间粒子自动吸引算法进行参数寻优的缺陷检测方法,采集若干工件图像;对缺陷位置进行分块,采用s层小波分解的方式对每个区域的图像进行逐层二维小波分解,提取其小波分解系数,之后将第s层小波分解后的小波分解系数拼接特征向量;计算出所有图像相同区域的特征向量;划分训练集和测试集,训练集训练分类器,测试集验证分类器:将所有图像同一区域的特征向量整理后作为数据集,以1:1的比例将数据集划分为训练集和测试集,将训练集和测试集分别放入分类器中进行训练;使用空间粒子自动吸引算法对支持向量机的参数进行寻优,并训练支持向量机;输出分类器模型。该方法具有使用较少的数据即可对模型进行训练的优点。
搜索关键词: 基于 空间 粒子 自动 吸引 算法 进行 参数 缺陷 检测 方法
【主权项】:
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