[发明专利]测试电路、测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 202111246405.X | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN116027167A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 陈晶晶;曾雪松;李若园 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 高静 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试电路、测试系统和测试方法，所述测试电路包括：测试频率产生单元，适于在相应的控制信号的控制下，生成具有相应测试频率的测试时钟信号；分频处理单元，适于将待测动态D触发器和静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率进行分频处理，得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率；测试机台，适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较；当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时，生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元，直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时，获取对应的测试结果。上述的方案，可以实现动态D触发器的在线自动化测试，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
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