[发明专利]一种对光模块进行参数测试的方法及装置有效
| 申请号： | 202111250163.1 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN113938191B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 肖刚;胡毅;杨俊麒;宋耕 | 申请（专利权）人： | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人： | 何婷 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对光模块进行参数测试的方法及装置。其方法部分主要包括：设置BERT中PG的输出码型为PRBS13Q；被测光模块内部参数写入：从标准光模块1中读取内部光发射方向的DSP芯片1、DRIVER芯片1和TOSA1的参数配置，将其写入被测光模块内部各对应芯片的参数配置中；设置与被测光模块相连的光示波器和CDR，锁定标准速率的PAM4光信号，等待并读取示波器中计算出的PAM4参数值；判断读取的参数值是否符合要求；最终参数验证：设置BERT中PG的输出码型为SSPRQ，等待并读取光示波器中计算出的PAM4参数值并验证是否符合要求。本发明可以解决直接在SSPRQ码型条件下进行测试难以使得光信号的参数符合要求的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 对光 模块 进行 参数 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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