[发明专利]一种实时时钟芯片的测试系统及其方法在审
| 申请号： | 202111250455.5 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN114035024A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 陈稳;陈定文 | 申请（专利权）人： | 深圳市兴威帆电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R23/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实时时钟芯片的测试系统及其方法，包括电路测试板、频率计、高低温测试箱；所述电路测试板包括微控制器与时钟芯片测试位；所述微控制器用于读取待测时钟芯片内置温度传感器的温度值并控制待测时钟芯片调整内置晶体负载电容值，控制待测时钟芯片输出频率信号，并读取高精度频率计的频率值，对每一片待测时钟芯片进行温度特性测量，并计算出晶体负载电容温度特性曲线的顶点温度值和对应待测时钟芯片在恒定频率值下晶体负载电容的温度特性曲线的补偿数据；所述时钟芯片测试位用于放置多片待测时钟芯片；所述频率计用于测量待测时钟芯片输出频率值；所述高低温测试箱用于提供不同温度的测试环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实时 时钟 芯片 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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