[发明专利]一种NTC产品的耐久性测试系统在审

专利信息
申请号: 202111254945.2 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN113959601A 公开(公告)日: 2022-01-21
发明(设计)人: 俞兴华;张显平;陈仁建;陈博;高洪亮;纪灵爽;吴鸿鹏 申请(专利权)人: 厦门赛尔特电子有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 代理人: 方惠春
地址: 361000 福建省厦门市火*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及NTC测试领域,特别地涉及一种NTC产品的耐久性测试系统。本发明公开了一种NTC产品的耐久性测试系统,包括电源、测试设备和电阻箱,电源、测试设备和电阻箱依次电连接构成测试回路,测试设备用于安装待测试的NTC产品而使待测试的NTC产品接入测试回路中,电阻箱内设有负载电阻单元,用于提供测试回路中的负载电阻,电阻箱上设有拨动开关,用于调节负载电阻单元的阻值大小。本发明可以实现NTC产品的耐久性测试,负载电阻大小的调节方便、快速,调节精度高,安全性高,且结构紧凑简洁。
搜索关键词: 一种 ntc 产品 耐久性 测试 系统
【主权项】:
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