[发明专利]相干断层扫描装置及方法在审
申请号: | 202111260516.6 | 申请日: | 2021-10-28 |
公开(公告)号: | CN113984715A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 吴笛 | 申请(专利权)人: | 上海盛晃光学技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本公开提供了一种相干断层扫描装置及方法,涉及光学技术领域。该相干断层扫描装置包括:光源组件,由宽谱光源器件、色散器件和数字微镜组成,宽谱光源器件发出的光线依次经过色散器件和数字微镜,光源组件为相干断层扫描装置提供光源输出;干涉组件,设置在光源组件的光线出口处,光源组件发出的光线在干涉组件中进行分光和干涉;光电探测组件,设置在所述干涉组件的干涉光线出口处,光电探测组件用于获取干涉光线的光强分布。本公开提供的相干断层扫描装置中的光源组件由宽谱光源器件、色散器件和数字微镜组成,通过上述三种器件的特殊光路整合,可实现快速输出频率可调谐的光源,降低了相干断层扫描装置的成本,提升了装置光源的输出速度。 | ||
搜索关键词: | 相干 断层 扫描 装置 方法 | ||
【主权项】:
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