[发明专利]一种存储芯片用低功耗质量检测设备在审
申请号: | 202111264204.2 | 申请日: | 2021-10-28 |
公开(公告)号: | CN113976476A | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | 曾小帅;位明明;郭中祥;曾团结 | 申请(专利权)人: | 视旗科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 冯建华;杨春 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区民治街道新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及质量检测技术领域,且公开了一种存储芯片用低功耗质量检测设备,包括滑道,所述滑道的内壁滑动连接有电路板,所述滑道的前部和后部均固定连接有滑板,所述滑板的上表面固定连接有分离装置,所述滑道的前部设置有收集装置,所述滑道的内壁固定连接有隔板,所述滑道的内壁分别滑动连接有前支撑板和后支撑板,所述滑道的前部和后部分别开设有前出料口和后出料口,所述滑道的内壁固定连接有挡板,所述后支撑板的前部固定连接有卸料弹片,本发明将电路板放入滑道中,通过重力时电路板表面的芯片与挡板撞击,通过芯片的撞击来实现芯片的检测,只需工人将电路板放入即可,设备无需电力控制,进而减少检测成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储 芯片 功耗 质量 检测 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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