[发明专利]孔缺陷检测设备和方法在审
| 申请号： | 202111270400.0 | 申请日： | 2021-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN114034718A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 吴梦莹;朱健林;关雪丹;陈嘉杰;张美玲;韩小雷;程书朋;田荣 | 申请（专利权）人： | 中广核研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/954 | 分类号： | G01N21/954;G01N21/01 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 曾旻辉 |
| 地址： | 518048 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种孔缺陷检测设备和方法，包括行走组件和检测组件，行走组件能够相对检测工件移动，检测组件安装于行走组件上。在使用该设备时，行走组件能够带动检测组件沿检测工件的表面移动，当检测组件移动到待检孔的正上方时，行走组件停止移动，检测端伸入待检孔的孔内。检测端在孔内绕自身轴线转动即可获取待检孔的周向图像，同时检测端在沿自身轴线转动的同时还可沿轴线方向移动以获取待检孔的整个孔壁图像，再通过对整个孔壁图像的分析即可实现对孔缺陷的识别。通过这样的设置，孔缺陷检测设备即可实现对孔的孔壁图像的获取，避免了因人工检测而导致核辐射对检测人员的伤害，同时也能提高检测质量和检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
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