[发明专利]一种检查芯片周围电容的方法、系统、设备和存储介质有效
| 申请号： | 202111271374.3 | 申请日： | 2021-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN114152228B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 宫鹏 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰;张涛 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检查芯片周围电容的方法、系统、设备和存储介质，方法包括：确定芯片最外层引脚预设范围内的所有第一电容，并获取第一电容的位置和大小；获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围；确定第一电容在检测范围内的第二电容，并判断第二电容的数量与大小是否与预设值相同；以及响应于第二电容的数量与大小与预设值相同，确定供电引脚满足要求。本发明通过获取芯片所有供电引脚的坐标，以供电引脚的坐标为中心，以预设间距为半径确定供电引脚的检测范围，并通过检查检测范围内的电容的数量和大小是否符合要求，提高PCB设计可靠性的同时也极大的提高了PCB设计效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检查 芯片 周围 电容 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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