[发明专利]一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备及检测方法在审

专利信息
申请号: 202111278626.5 申请日: 2021-10-31
公开(公告)号: CN113884501A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 唐云龙;韩春波;王磊;冯雪;岳文;杨义勇 申请(专利权)人: 中国地质大学(北京);中国地质大学(北京)郑州研究院
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083 北京市海淀区学院路2*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多孔陶瓷基天线罩新型无损检测设备及检测方法,该设备包括:一体式旋转台基座、检测光源系统、换位检测系统;所述检测光源系统和换位检测系统设置于一体式旋转台基座上,所述检测光源系统在多孔陶瓷基天线罩检测时封闭于多孔陶瓷基天线罩内部并随旋转台旋转,所述换位检测系统包括:设置在升降机构上随升降机构升降的探测机械臂、设置在探测机械臂上随探测机械臂进行位置调整的检测相机组合。本发明利用多孔陶瓷基天线罩微透光的特性对多孔陶瓷天线罩的裂纹、气孔和划痕等缺陷进行检测,检测能力强、检测效率高,检测结果稳定可靠,可用于大规模快速检测,可以满足不同尺寸的、一定壁厚范围内的多孔陶瓷基天线罩的无损检测。
搜索关键词: 一种 多孔 陶瓷 天线罩 新型 无损 检测 设备 方法
【主权项】:
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