[发明专利]在ZnSe/Si异质结界面嵌入CdSe调控层的制备方法有效
申请号: | 202111280521.3 | 申请日: | 2021-10-30 |
公开(公告)号: | CN114000108B | 公开(公告)日: | 2023-10-17 |
发明(设计)人: | 李勇;张芳;李鹏飞;姬鹏飞;宋月丽;周丰群;田明丽 | 申请(专利权)人: | 平顶山学院 |
主分类号: | C23C14/16 | 分类号: | C23C14/16;C23C14/35;C23C14/58 |
代理公司: | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人: | 石丹丹 |
地址: | 467000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明属于半导体异质结器件技术领域,特别是涉及一种在ZnSe/Si异质结界面嵌入CdSe调控层的制备方法,该方法首先以p型硅为衬底,利用直流磁控溅射技术在硅片上依次沉积Cd和Zn金属纳米层,制备出纳米结构Zn/Cd/Si;然后将纳米结构Zn/Cd/Si在乙二醇溶液中与Se直接反应,制备出ZnSe/CdSe/Si异质结。本发明利用磁控溅射技术和元素直接反应相结合的方法,实现在ZnSe/Si异质结界面嵌入CdSe纳米薄膜调控层,一方面,减小了ZnSe/CdSe界面的位错缺陷态密度,另一方面,嵌入的CdSe纳米薄膜调控层易于控制,从而提高了基于ZnSe/CdSe/Si异质结电子器件的光电性能。 | ||
搜索关键词: | znse si 异质结 界面 嵌入 cdse 调控 制备 方法 | ||
【主权项】:
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