[发明专利]晶片自动定位装置及晶片自动定位方法在审

专利信息
申请号: 202111286918.3 申请日: 2021-11-02
公开(公告)号: CN114179002A 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 朱干慧;苏亚青;吕剑 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: B25B11/00 分类号: B25B11/00;G01N21/01
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种晶片自动定位装置及晶片自动定位方法。装置包括:晶片移动通道;机械臂用于沿着晶片移动通道的延伸方向,将晶片从晶片移动通道的一端,移动并装载到位于晶片移动通道另一端的工作台上;光线检测传感幕帘设于晶片移动通道中,光线检测传感幕包括多道在同一平面上的检测光,多道检测光之间相互平行形成检测平面;检测平面垂直于晶片移动通道的延伸方向;晶片在晶片移动通道中的移动过程,能够切断光线检测传感幕帘中至少一道检测光;控制装置;在光线检测传感幕帘中至少一道检测光被切断后,控制装置能够接收到传感信息,并根据传感信息控制机械臂,使得晶片沿着预设移动路径移动。
搜索关键词: 晶片 自动 定位 装置 方法
【主权项】:
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