[发明专利]芯片的测试方法及装置在审
| 申请号： | 202111291349.1 | 申请日： | 2021-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN114113975A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 张太白 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人： | 苑晨超 |
| 地址： | 300384 天津市滨海新区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片的测试方法，执行于存储有测试参数包的数据服务器，包括：获取用户输入的更新测试参数，在测试参数包中查询是否具有与更新测试参数对应的历史测试参数；当测试参数包具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储并记录更新测试参数的版本；当测试参数包不具备对应的历史测试参数时，将更新测试参数进行存储，向执行测试程序的测试服务器发送更新通知，以使测试服务器获取与更新测试参数对应的更新测试程序。本发明提供的芯片的测试方法及装置，能够将测试参数与测试程序本身进行解耦，在未增加新的功能模块和测试方法的时候，测试参数单独更新，无需对测试程序进行升版，从而，减少维护过程所需要投入的人力和时间。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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