[发明专利]X射线分析装置以及X射线分析方法在审
| 申请号： | 202111298239.8 | 申请日： | 2021-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN115015296A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 原田大辅;欅泰行 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;徐川 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线分析装置，可容易且准确地进行用于获得X射线透过图像的、摄影对象的定位。X射线分析装置设为下述结构，即包括：X射线源(10)；X射线检测器(11)，检测从X射线源(10)照射的X射线；以及旋转平台(12)(平台)，配置于X射线源(10)与X射线检测器(11)之间，保持摄影对象(W)，且所述X射线分析装置包括：光照射机构(20)，向与从X射线源(10)照射的X射线的X射线光轴(L)相同的光轴上照射光，在X射线检测器(11)的位置形成摄影对象(W)的影子。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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