[发明专利]氮化硅膜的成膜方法和成膜装置在审

专利信息
申请号: 202111318553.8 申请日: 2021-11-09
公开(公告)号: CN114517289A 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 渡边幸夫;高藤哲也;内田博章;佐藤吉宏 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/455;C23C16/52
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 氮化硅膜的成膜方法和成膜装置。在基板温度为200℃以下成膜为覆盖范围良好的氮化硅膜。氮化硅膜的成膜方法在收纳于处理腔室内的基板上成膜为氮化硅膜,成膜方法具备:工序(a),在不供给高频电力的状态下向处理腔室内供给包含卤化硅气体的气体;工序(b),(a)工序后,停止包含卤化硅气体的气体的供给,将处理腔室内排气;工序(c),(b)工序后,向处理腔室内供给含氮气体;工序(d),(c)工序后,向处理腔室内供给高频电力,产生等离子体;工序(e),(d)工序后,停止含氮气体的供给和高频电力的供给,将处理腔室内排气;和重复执行对应于直至形成预先确定的膜厚的氮化硅膜的X次(X≥1)(a)至(e)的工序,(a)至(e)的工序中将基板温度控制为200℃以下。
搜索关键词: 氮化 方法 装置
【主权项】:
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