[发明专利]一种基于GaAs衬底制备InP薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 202111325697.6 申请日: 2021-11-10
公开(公告)号: CN114134565B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 徐鹏飞;王岩;罗帅;季海铭 申请(专利权)人: 江苏华兴激光科技有限公司
主分类号: C30B25/18 分类号: C30B25/18;C30B29/40;H01L21/02
代理公司: 武汉江楚智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 42228 代理人: 邓寅杰
地址: 221300 江苏省徐州市邳*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于GaAs衬底制备InP薄膜的方法,包括以下步骤:(1)选择一GaAs衬底;(2)在GaAs衬底上生长GaAs缓冲层;(3)在GaAs缓冲层上制备复合缓冲层,复合缓冲层由石墨烯层和GaxIn1‑xP材料层交替生长形成,最下层为石墨烯层,最上层为GaxIn1‑xP材料层;(4)在复合缓冲层上生长InP薄膜。本发明基于单晶GaAs衬底,采用石墨烯和带有均匀分布纳米柱结构的GaxIn1‑xP材料相结合的复合缓冲层制备InP薄膜,可消除在GaAs衬底上外延生长InP材料层时产生的失配应力,降低材料层缺陷密度,改善InP薄膜的晶体质量。本发明可以基于技术成熟、成本较低的GaAs衬底来制备InP材料,最终实现在GaAs衬底上制备InP光电子器件。
搜索关键词: 一种 基于 gaas 衬底 制备 inp 薄膜 方法
【主权项】:
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