[发明专利]一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置及方法在审
| 申请号： | 202111337312.8 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN113921074A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 潘毅 | 申请（专利权）人： | 芯河半导体科技（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/14;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京神州信德知识产权代理事务所(普通合伙) 11814 | 代理人： | 朱俊杰 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新吴区菱*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种自动生成DDR最佳效率配置参数的测试装置，包括总线激励发生器、总线监测分析逻辑器、效率分析逻辑器和地址映射配置逻辑器和DDR逻辑器，总线激励发生器用于产生对DDR逻辑器的访问激励，总线监测分析逻辑器实时监测总线激励发生器对DDR逻辑器的读写行为并输出相关监测数据，效率分析逻辑器收集总线监测分析逻辑器产生的数据并计算效率情况然后输出相关数据，地址映射配置逻辑器收集效率分析逻辑器产生的数据进行分析并决定是否调整配置参数重新启动测试。本发明根据测试结果自动调整DDR地址映射配置参数，直至输出DDR最佳效率配置参数，可以避免DDR上下游测试人员之间的信息交流误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 生成 ddr 最佳 效率 配置 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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