[发明专利]电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111357171.6 申请日: 2021-11-16
公开(公告)号: CN114545096A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 佐藤俊弥;林达也 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在本发明的电磁环境分析系统中,图像制作部在与各测定值的测定位置相对应的位置制作显示测定值相关的信息的图像。设定多个区划。区划判定部基于上述位置信息,判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值运算代表值,并基于代表值确定在区划中显示的信息。
搜索关键词: 电磁 环境 分析 系统 方法 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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