[发明专利]数据库测试方法、装置、介质与电子设备在审
| 申请号： | 202111372132.3 | 申请日： | 2021-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN114064435A | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 兰芳 | 申请（专利权）人： | 京东科技信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种数据库测试方法、装置、介质与电子设备，涉及计算机技术领域。所述数据库测试方法包括：向数据库服务器中预先创建的测试数据库发送多个数据操作请求；接收所述数据库服务器响应于每个所述数据操作请求返回的请求处理结果；根据所述测试数据库中的数据操作结果，以及多个所述请求处理结果中的第一请求处理结果，确定所述数据库服务器的第一性能指标值；根据多个所述请求处理结果中的第二请求处理结果，确定所述数据库服务器的第二性能指标值。本公开提供的数据库测试方案，提高了确定的数据库服务器性能的精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 数据库 测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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