[发明专利]具有锗扩散纳米带沟道结构的全环栅集成电路结构在审

专利信息
申请号: 202111385884.3 申请日: 2021-11-22
公开(公告)号: CN114664821A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: A·C-H·韦;G·布歇;J·T·卡瓦列罗斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238;H01L29/10;H01L29/12;H01L29/16;H01L29/161
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 林金朝
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 描述了具有锗扩散纳米线/纳米带沟道结构的全环栅集成电路结构,以及制造具有锗扩散纳米线/纳米带沟道结构的全环栅集成电路结构的方法。例如,一种集成电路结构包括在子鳍状物结构上方的纳米线的垂直布置,其中,纳米线的垂直布置中的各个纳米线包括硅和锗,并且其中,子鳍状物结构在子鳍状物结构的顶部处具有比在子鳍状物结构的底部处相对更高的锗浓度。
搜索关键词: 具有 扩散 纳米 沟道 结构 全环栅 集成电路
【主权项】:
暂无信息
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