[发明专利]非易失存储器的坏块检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111386658.7 | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN114203252A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 谭四方 | 申请（专利权）人： | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/42;G11C29/32 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失存储器的坏块检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：当接收到坏块检测指令时，对待检测非易失存储器进行顺序扫描，确定并记录第一坏块；对所述待检测非易失存储器进行纵向扫描，确定并记录第二坏块；将所述第一坏块和所述第二坏块标记为坏块，并存储所述坏块的信息。本发明通过多种方式对待检测非易失性存储器进行扫描，从而可以更加全面的对非易失存储器进行检测，解决了当前非易失存储器的坏块检测方法中扫描方式单一的问题，提高了坏块检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失 存储器 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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