[发明专利]数字芯片的测试访问架构与测试访问方法在审
| 申请号： | 202111386939.2 | 申请日： | 2021-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN114280449A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘畅;李德建;李文明;王于波;冯曦;邹华 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国网江苏省电力有限公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 赵敏岑 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种数字芯片的测试访问架构与测试访问方法，属于集成电路测试技术领域。所述架构包括：由数字芯片内的所有模块划分的N个测试组；其中，所述N个测试组的每一个测试组中包括多个测试模块，所述每一个测试组中的所述多个测试模块之间被配置为采用分布式测试访问机制进行测试；所述N个测试组之间被配置为采用多路选择测试访问机制进行测试。本发明实施例适用于对大规模数字芯片的测试过程中的架构划分。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 芯片 测试 访问 架构 方法 | ||
【主权项】：
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