[发明专利]一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片在审
| 申请号： | 202111401031.4 | 申请日： | 2021-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN115718248A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 郑文杰 | 申请（专利权）人： | 深圳英集芯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片。芯片测试与引脚复用单元，应用于芯片，芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元，芯片功能单元和引脚一一对应；芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试模块、引脚复用模块、M个第一开关模块和M个第二开关模块，M的取值为大于1的整数，N的取值为M的取值的2倍，从而通过复用芯片已有芯片功能单元所对应引脚以实现芯片测试，无需额外为芯片测试新增独立的引脚，从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚，进而有利于减小芯片的体积，以及降低芯片在设计、集成和封装上的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 引脚 单元 相关 方法 | ||
【主权项】：
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