[发明专利]一种基于低能X射线电离的真空电气设备真空度检测方法在审
| 申请号： | 202111429494.1 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113959632A | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 郑书生;张宗衡;吴诗优 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G01L21/36 | 分类号： | G01L21/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102206*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于低能X射线的真空电气设备真空度检测方法，包括X射线机，屏蔽箱，不同真空度的真空腔（真空度分别为：0.001Pa、0.01Pa、0.1Pa、1Pa），50Ω同轴电缆，变压器，整流二极管，保护电阻，滤波电容，采集电阻和采集装置，铅屏风。该方法具体为：X射线机发射X射线照射至真空电气设备的真空腔，对真空电气设备施加直流电压，采用脉冲电流法观察电离电流；通过施加电压，并施加X射线，观察电离电流强度的变化，从而达到对真空电气设备的真空度判断。照射装置带有10mm铅当量的铅屏蔽箱，防止X射线泄露危害使用者。由于X射线具有很强的物体穿透能力，从而使真空电气设备在不拆卸情况下检测真空度。从而为真空电气设备的真空度检测提供一种新方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 低能 射线 电离 真空 电气设备 检测 方法 | ||
【主权项】：
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