[发明专利]一种ATE设备DC校准有效性的检测方法在审
| 申请号： | 202111441371.X | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114264996A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 黄谷来 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;尹一凡 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种ATE设备DC校准有效性的检测装置及其检测方法，用于检测业务板卡各数字通道的DC校准有效性测试；该装置其包括多块数字板卡和环回互联模块；每块数字板卡包括上百个通道和一个板卡逻辑处理单元；环回互联模块包括线缆和与数字板卡对接的连接器，用于将每个数字板卡上的每两个相邻通道为一组进行环回互联以形成一条检测回路；板卡逻辑处理单元包括正向测试单元、反向测试单元和判断单元；正向测试单元奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历，反向测试单元对偶数通道的校准有效性遍历，判断单元根据校准有效性检测标准和所有校准有效性遍历的结果，判断全部通道的DC校准情况；因此，本发明可以使用户提供更为便捷的ATE设备DC校准有效性的检测功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 设备 dc 校准 有效性 检测 方法 | ||
【主权项】：
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