[发明专利]一种用激光观测微孔缺陷的方法在审
申请号: | 202111443084.2 | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114061491A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 黄振永;薛竣文;唐佳林 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学珠海学院 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 赵丹 |
地址: | 519088 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种用激光观测微孔缺陷的方法,涉及激光衍射领域,选用光纤激光器,由单根光纤输出红色光,光纤插入微型孔管的一端,在另一端会发生菲尼尔衍射,调节光屏的位置,就可以看到清晰的衍射图形,数码摄像头观测衍射图形,并传送到电脑中,用显示器观察和测量衍射图形的长轴与短轴的比值来判断圆孔的圆度情况,用亮条纹的波动大小判断凸点或凹坑的缺陷情况;本发明通过激光的菲涅尔衍射原理,由光纤激光器输出单色光至微型孔管内,观察衍射图形,并根据衍射图形衍射图形的长轴与短轴的比值来判断圆孔的圆度情况,用亮条纹的波动大小判断凸点或凹坑的缺陷情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 观测 微孔 缺陷 方法 | ||
【主权项】:
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