[发明专利]显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202111443264.0 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114170168A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 赵同印;王涛 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/90;G06T7/136;G06T7/13;G06V10/74 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 沈晓敏 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。本发明提供的显示模组缺陷检测方法，通过先后执行特征匹配和边缘清晰度计算和标记，实现对显示模组表层和内层，以及多个内层之间的缺陷的分别检测和输出，如此降低漏检概率，便于后续检修。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 模组 缺陷 检测 方法 系统 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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