[发明专利]低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法有效
| 申请号： | 202111451086.6 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN113872683B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 张祥波;黄望隆;郜定山 | 申请（专利权）人： | 武汉驿路通科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/073 | 分类号： | H04B10/073;H04J14/02 |
| 代理公司： | 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 | 代理人： | 王力 |
| 地址： | 430200 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法，其系统包括扫描光源、偏振控制器、第一耦合单点光源、第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列，扫描光源与偏振控制器耦合连接，偏振控制器与第一光开关的一路通道耦合连接，第一耦合单点光源与第一光开关的另一路通道耦合连接，第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列顺次耦合连接，多模光纤阵列的多个输出通道与多通道功率计的多个输入通道对应耦合连接。在耦合时实时读取光信号的功率数据，以实现单纤和解复用器芯片的精准耦合，且测试时控制第一光开关切换光路，测试不同波长光信号在解复用器芯片各个通道内的损耗数据，进而可精确测出每个通道的光学性能指标。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 波导 阵列 光栅 分解 复用器 耦合 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉驿路通科技股份有限公司，未经武汉驿路通科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111451086.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种面向钢结构生产的智能装备系统以及调度方法
- 下一篇：一种医学器械干燥装置
