[发明专利]曝光辅助图案、掩膜版以及半导体器件的制造方法在审
申请号: | 202111452479.9 | 申请日: | 2021-12-01 |
公开(公告)号: | CN114384754A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 程雷;吴潇潇 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 任欢欢 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请公开了一种曝光辅助图案、掩膜版以及半导体器件的制造方法,曝光辅助图案包括至少一辅助图形,靠近掩膜版上的主图形设置,以在主图形曝光转移至基底上时,至少一辅助图形改善主图形的末端收缩,其中,每个辅助图形包括主体部和端部,主体部对应于主图形,且主体部的延伸方向与主图形的延伸方向平行;端部对应于主图形的末端,其中,端部连接主体部,且端部的宽度大于主体部的宽度,主体部与主图形之间的距离大于端部与主图形的末端之间的距离。上述公开的曝光辅助图案,能够有效改善主图形的末端的收缩,提升光刻成像质量。 | ||
搜索关键词: | 曝光 辅助 图案 掩膜版 以及 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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