[发明专利]自动测试装置及自动测试方法在审
| 申请号： | 202111455013.4 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN114397550A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 彭晶晶;陈健;袁晓林;雍发明 | 申请（专利权）人： | 通富微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李申 |
| 地址： | 226000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种自动测试装置及自动测试方法，该自动测试装置包括：放置区，用于放置待测试产品；移动电极，位于所述放置区一侧，所述移动电极能在第一位置和第二位置之间切换；所述移动电极位于所述第一位置时，所述移动电极与所述待测试产品接触；所述移动电极位于所述第二位置时，所述移动电极与所述待测试产品之间具有间隔；控制部，所述控制部和所述移动电极电连接，所述控制部用于根据所述待测试产品的属性控制所述移动电极处于所述第一位置或所述第二位置。本申请提供的自动测试装置及自动测试方法，能够根据待测试产品的属性自动切换测试结构，结构简单，自动化程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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