[发明专利]一种磷化铟的减薄抛光方法有效

专利信息
申请号: 202111455364.5 申请日: 2021-12-01
公开(公告)号: CN114131434B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 孙锦洋 申请(专利权)人: 成都海威华芯科技有限公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B19/22;B24B37/00
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 杜朗宇
地址: 610299 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种磷化铟的减薄抛光方法,其包括如下步骤:(1)将磷化铟晶圆放在铺满研磨液的研磨机上进行研磨;研磨液以6~100ml/min的流量滴在旋转盘上,转速范围为20~90rpm/min;(2)将磷化铟晶圆放在铺满抛光液的抛光机上进行抛光,抛光液以6~100ml/min的流量滴在抛光垫上;(3)对完成化学机械抛光的磷化铟晶圆进行清洗。本发明方法大大提高了减薄效果、抛光效果,且能减少侵蚀抛光设备,降低成本。
搜索关键词: 一种 磷化 抛光 方法
【主权项】:
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