[发明专利]一种磷化铟的减薄抛光方法有效
申请号: | 202111455364.5 | 申请日: | 2021-12-01 |
公开(公告)号: | CN114131434B | 公开(公告)日: | 2022-12-13 |
发明(设计)人: | 孙锦洋 | 申请(专利权)人: | 成都海威华芯科技有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B19/22;B24B37/00 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 杜朗宇 |
地址: | 610299 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种磷化铟的减薄抛光方法,其包括如下步骤:(1)将磷化铟晶圆放在铺满研磨液的研磨机上进行研磨;研磨液以6~100ml/min的流量滴在旋转盘上,转速范围为20~90rpm/min;(2)将磷化铟晶圆放在铺满抛光液的抛光机上进行抛光,抛光液以6~100ml/min的流量滴在抛光垫上;(3)对完成化学机械抛光的磷化铟晶圆进行清洗。本发明方法大大提高了减薄效果、抛光效果,且能减少侵蚀抛光设备,降低成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 磷化 抛光 方法 | ||
【主权项】:
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