[发明专利]一种基于FPGA的时频参数测量装置在审
| 申请号： | 202111460620.X | 申请日： | 2021-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN114280467A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 殷晔;李嘉瑞;周庆飞;杜影;杨立杰;王红宇;张朝元;安佰岳 | 申请（专利权）人： | 北京航天测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 杜欣 |
| 地址： | 100041 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种基于FPGA的时频参数测量装置，包括：边沿计数模块，用于获取目标信号的边沿数，获得计数值，目标信号的电压在FPGA平台接入电压的预设范围之内；数据处理模块，与边沿计数模块连接，用于利用预先烧录至FPGA平台的第一预设程序将计数值转换为测量值，测量值用于表示目标信号的时频特征。本方案通过较少的外围电路进行组合就能完成时频参数的测量，不仅降低了测量成本，而且体积小、方便携带，大大提高了测量效率和用户体验。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 参数 测量 装置 | ||
【主权项】：
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