[发明专利]一种邻层环栅纳米线/片CMOS结构在审

专利信息
申请号: 202111462244.8 申请日: 2021-12-02
公开(公告)号: CN114628384A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 陈超 申请(专利权)人: 常熟西军电技术转移有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238;B82Y10/00
代理公司: 上海远诺知识产权代理事务所(普通合伙) 31397 代理人: 尹晓雪
地址: 215505 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种层环栅纳米线/片CMOS结构,包括:衬底;衬底上设置有串行连接的nMOS和pMOS;nMOS包括第一纳米体结构和环绕第一纳米体结构的第一栅电极,pMOS包括第二纳米体结构和环绕第二纳米体结构的第二栅电极;第一纳米体结构和第二纳米体结构设置于相邻的两层且由相同导电类型的半导体材料形成;第一栅电极与第二栅电极由相同功函数的导电材料形成;衬底材料为体Si或SOI;第一纳米体结构的材料为Si,第二纳米体结构的材料为SiGe。本发明nMOS和pMOS的纳米体由相同导电类型的半导体材料形成,栅电极由相同功函数的导电材料形成,因此可以同时制备,有利于提高CMOS结构及其集成电路的性能与可靠性。
搜索关键词: 一种 邻层环栅 纳米 cmos 结构
【主权项】:
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