[发明专利]一种用于超快扫描二次电子成像的E-T探测器在审

专利信息
申请号: 202111468462.2 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114203503A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 付学文;陈祥;张亚卿;刘芳 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01J37/09 分类号: H01J37/09;H01J37/16;H01J37/29
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 刘美丽
地址: 300071 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种用于超快扫描二次电子成像的E‑T探测器,该探测器包括承载本体、光电倍增管、光导管、闪烁体、栅网和滤光片;所述承载本体内依次设置有光电倍增管、光导管和闪烁体;位于所述闪烁体前方的所述承载本体前端设置所述栅网;所述光电倍增管和所述光导管之间设置有至少一个滤光片。本发明通过增加滤光片以及增镀铝膜,实现降低泵浦光与杂散光源对超快扫描成像的干扰,提升图像的信噪比,获得高质量的超快电子扫描图像。
搜索关键词: 一种 用于 扫描 二次电子 成像 探测器
【主权项】:
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