[发明专利]存储器裸片上的存储器位置年限跟踪在审
| 申请号： | 202111484256.0 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114613413A | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | F·G·特里维迪 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;H05K3/34 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 各种实施例实现对存储器裸片的一或多个物理存储器位置(例如，物理块)进行年限跟踪，所述存储器裸片可来自存储器装置的部分。特定来说，各种实施例使用所述存储器裸片上的一或多个老化分组提供存储器裸片(例如，存储器集成电路IC)的一或多个物理存储器位置的年限跟踪，其中每一老化分组与所述存储器裸片的一组不同的物理存储器位置相关联。通过针对一组物理存储器位置使用老化分组，各种实施例可使得在存储器裸片已经受一或多个回流焊接工艺之后与所述存储器裸片交互的处理装置能够确定在所述一或多个回流焊接工艺之后所述组物理存储器位置的老化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 裸片上 位置 年限 跟踪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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